霍尔效应测试仪
产品介绍 价格电议 HEMS 霍尔效应测量系统 上海伯东英国 NanoMagnetics 仪器 HEMS 霍尔效应测量系统, 多样品实验, 非常适合材料研究等应用. HEMS 霍尔效应测量系统特点 多样品实验, van der Pauw 4接触点 ; Hall Bar 6接触点 广泛的材料: GaAs, lnP, lnAs, Si, Ge, SiGe, HgCdTe, GaN, SiC, AIN, 金属氧化物和有机导体 非常适合于材料研究, 产品开发和质量控制 样品电阻率, 电阻率, 霍尔系数, 霍尔迁移率, 载流子浓度或电流电压特性 Windows 操作系统用于系统操作, 数据采集和分析 HEMS 霍尔效应测量系统可以测量 移动测量 载流子测量 电阻率测量 Van der Pauw 测量 Hall Bar 测量 HEMS 霍尔效应测量系统极帽 可调极帽 25mm 面钻 连续可调 0-1, 30mm 的极隙 可选 50mm, 75mm 更大的钻心 电磁铁: ±2.ST@ I 0mm 间隙与 25mm 杆面 ±35V, ±70A 线圈 磁场 > ±IT @ 25mm 极隙 磁场强度高, 磁极间距大 串联线圈电阻: 0.5 0 ( 20℃ ) 水冷 HEMS 霍尔效应测量系统样品台: 弹簧加载设计选项 Van der Pauw 设计测量 四、六、八触点厅杆测量设计 容易安装样品与弹簧销 多个样品安装 上海伯东英国 NanoMagnetics 仪器 HEMS 霍尔效应测量系统, 多样品实验, 非常适合材料研究等应用. |
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