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LT-SPM 低温扫描探针显微镜

上海伯东代理英国 NanoMagnetics LT-SPM 低温扫描探针显微镜， 扫描探针显微镜在低温下的应用比在环境或高温下的应用更为广泛.

LT-SPM 低温扫描探针显微镜优势:

减少热漂移: 低温作业为消除与热漂有关的影响提供了最直接和可靠的途径

低噪音水平: 将温度从300k降低到10k， 可以使热频率噪声降低5倍以上， 例如， 可以在石墨等低波纹表面以原子分辨率获得三维力场

提高了和样品的稳定性

减少压电滞后/蠕变

许多物理效应于低温

LT-SPM 低温扫描探针显微镜系统参数:

Imaging Modes : SHPM， STM， AFM， MFM， EFM， SNOM (in development)

Scan Size Head : Large Area Scan Head Standart Scan Head Small Area Scan

150 x 150 μm @ 300 K 52 x 52 μm @ 300K 8 x 8 μm @ 300 K

36 x 36 μm @ 77 K 14 x 14 μm @ 77 K 3.5 x 3.5 μm @ 77 K

18 x 18 μm @ 4.2 K 6 x 6 μm @ 4.2 K 1.5 x 1.5 μm @ 4.2 K

Z Range : 7.0 μm @ 300 K 4.8 μm @ 300 K 2.4 μm @ 300 K

1.8 μm @ 77 K 1.2 μm @ 77 K 0.6 μm @77K

0.8 μm @ 4.2 K 0.5 μm @ 4.2 K 0.25 μm @ 4.2K

Head Dimensions : 23.6 mm OD x 125 mm or 25.4 mm OD x 100 mm

Sample Approach : Stick-slip type; 10 mm Z， ?3 mm XY range with 50 - 800 nm step size

Sample Size : 15 x 15 x 5 mm maximum

Temperature Range : 1.0 K - 300 K (Limited by the cryogenic equipment)

Magnetic Field : >16 T

原子力显微镜 (Atomic Force Microscope， AFM)， 隶属于扫描探针显微镜 (Scanning Probe Microscope， SPM)， 是一种具有原子级别高分辨， 高解像能力的科研仪器， 原子力显微镜可在真空， 气体或液体环境中操作， 适用于各种材料的表面检测， 形貌测量， 粗糙度分析及生医样品检测等.

与 STM 对比 AFM 可以观测非导电样品， 应用范围更广