局部高低温测试机Temptronic
产地:美国
工作室尺寸(W×H×D):139.7×139.7×100 降温速率(℃/min):视具体型号 升温速率(℃/min):视具体型号 温度稳定性(℃):视具体型号 温度冲击范围(℃):视具体型号 低温范围(℃):视具体型号 高温范围(℃):视具体型号 索取资料及报价产品介绍 美国 Temptronic ThermoStream 高低温测试机上海伯东中国总代理 上海伯东代理美国 Temptronic ThermoStream ATS 系列高低温测试机,测试温度范围 -100 ℃ 至 +300 ℃ 。Temptronic ThermoStream 提供快速、准确的高低温测试。适用于半导体芯片温度测试、PCB 电路板温度测试、电子元件温度测试、通讯元件温度测试、集成电路 IC 卡等高低温试验、冲击试验、半导体失效分析、可靠性测试等。 与传统高低温试验箱对比,Temptronic ThermoStream 高低温测试机主要优势: 1、变温速率更快,每秒可快速升温/降温 18度 2、温控精度:±1℃; 3、实时监测待测元件真实温度,可随时调整冲击气流温度 4、针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块),可单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件 5、对测试机平台 load board上 的 IC 进行温度循环 / 冲击;传统高低温箱无法针对此类测试。 6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。 美国 Temptronic ThermoStream 高低温循环测试机可与爱德万 advantest,泰瑞达 teradyne,惠瑞捷 verigy 工程机联用进行高低温循环冲击测试。 上海伯东 Temptronic ThermoStream高低温测试机客户应用案例: 1、Temptronic ATS-505 半导体芯片高低温失效测试 2、Temptronic ATS-535 集成电路 IC 卡高低温失效测试 3、Temptronic ATS-545-M 收发器高低温测试 |
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