产地:美国
工作室尺寸(W×H×D):139.7×139.7×10 降温速率(℃/min):+125至 -55°C 约10秒 升温速率(℃/min):-55至 +125°C 约10秒 温度稳定性(℃):良好 温度冲击范围(℃):-75 至 + 225(50 HZ) 低温范围(℃):-75 至 + 0(50 HZ) 高温范围(℃):0 至 + 225(50 HZ) 索取资料及报价产品介绍 inTEST ATS-545-M ThermoStream 高低温冲击测试机 上海伯东美国 inTEST 高低温测试机中国总代理: Temptronic ThermoStream ATS-545-M 温度范围 -75°C 至 +225°C;专利 ESD 防静电保护设计,不需要液态氮气(LN2)或液态二氧化碳(LCO2)冷却。ATS-545-M 是旧款高低温测试机 Temptronic TPO4310 和 Thermonics T-2820 全新升级款!inTEST Temptronic 超高速高低温测试机适用于电子元件、集成电路 IC、PCB 电路板的高低温测试。 Temptronic ThermoStream ATS-545-M 技术参数:
* 一般测试环境下;变温速率可调节 inTEST Temptronic高低温冲击测试机功能特点: 与友厂对比,inTEST ThermoStream 独有的专利自动复叠式制冷系统(auto cascade refrigeration)保证低温,内置 AC 交流压缩机,冷冻机(Chiller)特殊设计,制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃,有效保护环境;专利 ESD 防静电保护设计 旋钮式控制面板,支持数据存储。 过热温度保护:出厂设置温度 +230°C 加热模式下,冷冻机可切换成待机模式,以减少电力消耗 干燥气流持续吹扫测试表面,防止水气凝结 ATS-545-M 高低温测试机尺寸和重量: 尺寸: 宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm 净重 236 kg, 毛重 365 kg 与传统高低温测试箱、温湿度测试箱对比,inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势: 1、变温速率更快 2、温控精度:±1℃ 3、实时监测待测元件真实温度,可随时调整冲击气流温度 4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块),可单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件 5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击;传统高低温箱无法针对此类测试。 6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。 inTEST 高低温测试方法:提供两种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode 通过热流罩或测试腔将被测 IC 与周边环境隔离,然后对 IC 循环喷射冷热气流,使IC 温度短时间发生急剧变化,从而完成温度循环和温度冲击的测试。 inTEST高低温冲击测试机 ATS-545-M尺寸 宽61x深72.4 x高 108 cm 重量 365 kg 手臂延展 160 cm 标准操作高度 130.3 cm;(可选188 cm) 标准操作高度 69.1 cm;(可选81.3 cm) 噪音 < 65 dBA 若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请参考以下联络方式:上海伯东是德国Pfeiffer真空设备, 美国KRI考夫曼离子源, 美国inTEST高低温冲击测试机, 美国 Ambrell 感应加热设备和日本NS离子蚀刻机,英国NanoMagnetics原子力显微镜等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!部分品牌现诚招代理商, 有意向者可联络叶女士 |
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