KSI超声波扫描(SAM)
产品介绍 应用: Material Science Semiconductor—Ingots/Wafer/Packaging/PCBs/LEDs/Sensor/Other MEMS Aerospace Automotive Pharma & Biotech 技术参数: 德国KSI提供了**的**代超声波扫描(SAM), 拥有强大的设计应用团队,在超声波领域超过20年的经验。 其设备主要是针对半导体器件 ,芯片,材料内部的失效分析。其可以检查到材料内部的晶格结构,杂质颗粒, 夹杂物,沉淀物, 内部裂纹,分层缺陷,空洞,气泡及空隙等. 主要特点: 非破坏性、无损伤检测内部结构; 可分层扫描、多层扫描; 实施、直观的图像及分析; 缺陷的测量及百分比的计算; 可显示材料内部的三维图像; 对人体是没有伤害的; 可检测各种缺陷(裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞、晶界边界等) |
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