OLED光电及寿命综合测试系统
产品介绍 显示器件各种光学特性的自动测试 M7000自动I-V-L测试系统用于显示设备的多通道测试,具有普通的光学探测器,如光谱仪或色度计,通过三轴定位器自动改变其测量位置。测试项目涵盖了广泛的显示测试领域,不仅包括显示器件的基本特性,还包括其随时间的长期变化,包括寿命测量。根据功率驱动方式的不同,该系统分为三个子模块:单元器件和PMOLED面板的PMX、AMOLED面板的AMX和带有驱动芯片的OLED模块的MDX。 -适用于OLED (器件,Panel, 模组) -多通道 I-V-L & 寿命测试 -亮度/色度/光谱...测试 -电流/功率/量子效率测试 -自动对位 & 自动聚焦控制 -可进行独立温度控制 -阻抗测试 -可视角测试 -影像残留测试 |
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