X射线荧光镀层测厚及材料分析仪XDLM-PCB210
产品介绍 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪XDLM-PCB210 正业科技代理德国菲希尔测厚仪器产品,其产品在线路板中可以用于检测金属元素,涂层镀层的测厚,孔铜面铜的测厚,及绿油,铜箔等的测厚。另此系列产品还可广泛应用于其他行业,如汽车,飞机,五金等金属的测厚,黄金元素的测定。 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪XDLM-PCB210用途 : 该设备适用于多层镀层厚度测量及材料分析,可用来定量和定性分析样品的元素组成,也可用于镀层和镀层系统的厚度测量,最多可同时测定24种元素,广泛应用于电路板、半导体、电镀、珠宝等工业中的功能性镀层及电镀槽液中的成分浓度分析。 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪XDLM-PCB210特点: 1、无论是镀层厚度测量,还是镀液分析,复杂的多镀层应用,一个软件程序就可以完成所有测量应用 2、X射线管有带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管多种选择 3、X射线探测器PC(比例接收器)、PIN(硅PIN接收器)、SDD(硅漂移接收器) 4、可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地应用不同测量。 技术参数:
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