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GE Ndtanalysers 无损检测分析仪
GE Ndtanalysers 无损检测分析仪图片
产地:美国
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产品介绍
  • 主要功能

    • 160kV/ 320W高功率开放nm焦点管具有高达1um的细节探测能力

    • 应用广泛,适用於各种中等尺寸物件的分析检测

    • 浅显易懂的操作

    • 可检测物件重达10kg

    • 通用5轴或6轴机械平台系统

    • 高功率nm射線管,最大管電壓可達240kv

    • 可選高功率nm射线管,最大管电压可达200nm(0.2um)

    • 可选高功率nm射线管,细节分辨能力可达200nm(0.2um) 可选高图像质量的数字影像系统

    • 可配置功能**的CT系統

  • 设备规格

    最大管电压

    160 kV

    最大功率

    320 W

    细节检测能力

    高达1um

    最小焦物距

    4.5 mm

    几何放大倍率(2D)

    高达170倍

    最大目标尺寸(高x 直径)

    400mmx 300mm/ 16" x 12"

    最大物体重量

    10 kg/ 22 lb

    图像链

    200万像素的数字图像链

    操作

    5轴的样品操作

    2D X射线成像

    可以

    系统尺寸

    1500 mmx 2330 mmx 1686 mm/ 59” x 91.7” x 66.4”

    系统重量

    2800kg/ 6172.9 lb

    辐射安全

    - 全防辐射安全机柜,依据德国ROV和美国性能标准

    21 CFR 1020.40 (机柜X-Ray系统)。

    - 辐射 漏率∶从机台壁的10cm处测量 <1.0μSv/h。

    选购配件

    • 通过高动态温度稳定的GE DXR数字探测器与主动冷却(可选)获取的30 FPS(帧每秒)的清晰的影像

    • 240kV/ 320W高功率开放nm焦点管

    • 180kV/ 15W高功率nm焦点管具有高达0.2um的细节探测能力

    • 质量检查 :可人工检查自动程序运行结果的维修站软件,如bga模块,qfp模块或vc模块。

    • 转换器∶软件包转换结果文件,由质量保证制作成其他格式,是第三方软件要求的。

    • 质量分析:用於分析和人工观察检查结果的软件,由自动程序收集,并由质量检查分析软件来检查。

应用领域

塑料工程:

在塑料工程中,高分辨率的X射线技术用於通过探测缩孔、水泡、焊接线和裂缝并分析缺陷来优化铸造和喷涂过程。 X射线计算机断层扫描(micro ct 与nano ct)提供具有以下物体特点的3D图像∶如晶粒流模式和填料分布,以及低对比度缺陷。

玻璃纤维增强塑料样品的nano-CT ∶ 玻璃纤维和矿物填料(紫色)的凝聚体的排列和分布都清晰可见。纤维大约有10um宽。

感应器学和电气工程:

在感应器和电子组件的检测中,高分辨率X射线技术主要用於检测和评估接触点、接头、箱子、绝缘子和装配情况。甚至可以检测半导体元件和电子设备(焊点),而无需拆卸设备。

Nano-CT显示CSP组件的焊接接点。焊接接点的3D形状,约直径400um,空隙间隙分布清晰可见。焊接接点内部,不同的共晶焊料相是可见的。

铸件与焊接相关:

射线无损检测用於检测铸件和焊缝缺陷。

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