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光致发光量子效率测量系统
光致发光量子效率测量系统图片
产地:美国
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产品介绍

SpectrumTEQ-PL

光致发光量子效率测量系统

SpectrumTEQ-PL系列光致发光量子效率测量系统,针对器件的光致发光特性进行有效测量,可在手套箱内完成搭建,无需将样品取出,即可完成光致发光量子效率的测试。系统搭配QE Pro光谱仪为业内公认旗舰系列,信噪比高、杂散光低,

动态范围大,适合不同波段和强度的激发光发射光测量。同时,系统配有强大的测试软件,向导式的软件操作逻辑让测试过程变的简单,迅速。

应用:

无机光致发光

有机光致发光

EL器件封装前体

优势:

体积小巧:便于灵活使用及运输

原位测量:可放至手套箱内,实现原位测量

结构稳定:设备无需频繁校准

光谱仪

型号

QEPro/QE65Pro(可选)

光谱范围(nm

350-1100

信噪比

1000:1

分辨率

2.5nm(FWHM)

动态范围

85000:1(QEPro单次采集);25000:1(QE65Pro单次采集)

AD位数

18-bit(QEPro);16-bit(QE65Pro)

积分球

尺寸

3.3"

涂层材料

Sperctralon

激发光源

365-880nm光纤耦合高功率LED;强度可调

典型半峰全宽 (FWHM)=14nm@405nm

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