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量子效率测量系统
量子效率测量系统图片
产地:日本
灵敏度:1.2 nm/元件
波长准确度:± 0.3 nm
分辨率:1.2 nm
狭缝(光谱通带):± 0.3 nm
色散单元:光栅
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产品介绍

产品特点:

可以瞬间测量内部量子效率
通过BaSO4进行精度和再现性校准
大幅度减少紫外线区域的杂散光
采用可以去除再激发荧光发光的积分半球单元(HalfMoon)
配合低杂散光多频光谱检测器,可以进行高灵敏度和高稳定性的光谱测量
使用光谱仪类型的激发光源,可以选择任意波长
准备温调单元,可以进行自动温度的可变测量(Option)
适用于液体、粉体和固体样品

用途
● 荧光材料 荧光粉体LED的荧光材料、光致发光
● 其他有机EL、LB膜、功能性分子膜、包合物等

规 格
低杂散光多频光谱检测器
测量波长范围                   250 nm ~ 800 nm *
光谱仪                            光栅:闪耀全息型
                                     F = 3, f = 85.8 mm
                                     波长精度:± 0.3 nm
检测器                            电子冷却型CCD图像传感器
每个元件的波长幅度         1.2 nm/元件
激发光源部
激发光源单元                   150W氙光源+光谱仪
激发波长                          250 nm ~ 700 nm
波长扫描方式                   正弦曲线板方式(从软件设定)
测量部
积分半球(HalfMoon)单元 φ 150 mm


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