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徕卡裂变径迹显微分析系统
徕卡裂变径迹显微分析系统图片
产地:德国
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产品介绍

裂变径迹年代学,是一种根据矿物中重核元素238U裂变产生的辐射损伤特性进行分析的技术,锆石和磷灰石是两种主要分析矿物。50多年来,裂变径迹在原理方法和应用研究上逐步深入,并取得了进展和突破。与U-Pb和Ar/Ar中、高温热年代相比,裂变径迹热年代以低温封闭特性为特色,它们与U-Th/He热年代数据一道,成为约束低温段造山带剥露、地形地貌和沉积盆地热演化的重要手段。

德国徕卡的裂变径迹显微分析系统,适于磷灰石\锆石等裂变径迹的研究,通过徕卡智能型显微镜的自动化操作,对两个样本对应区域进行自动镜像精准定位、对比统计;能自动完成矿物颗粒分析、径迹数目统计、测量径迹与C轴角度、测量DparDper值,依据自发径迹密度和诱发径迹密度计算裂变径迹表观年龄。

系统组成

  • 徕卡智能型全自动研究级显微镜;

  • 高精度自动扫描台;

  • 自动聚焦模块;

  • 自动物镜转盘;

  • 编码识别变倍系统;

  • 智能型光强、光阑控制;

  • 研究级彩色数码摄像头;

  • 专业的裂变径迹应用软件包。

裂变径迹显微分析系统的主要功能:

  • 统计软件模块能在高分辨率下,对两个范围对应区域进行自动镜像对比统计。

  • 统计软件模块能自动完成颗粒数目统计。

  • 统计软件模块能自动读出径迹长度。

  • 各种软件生成或导出的数据文件能与 Microsoft Excel 软件格式相匹配,进行数据的后续

  • 处理;

  • 功能的控制及图像灰度、长度、计数等有关参数的计算;

  • 实现径迹长度和计数等功能的软件,即图像采集、处理、分析、管理等处理软件,外设控制或可选插件的控制:摄像机的获取插件控制;XY 载物台控制;

  • 多维图像获取和浏览插件,用于多时间点、多波长、多位点的图像获取;

  • 自动薄片扫描控制;自动聚焦控制;

  • 文件管理控制等。

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