KLA-Tencor INM100显微镜
产品介绍 仪器简介: 應用: ◆多种成像方式(亮场、暗场、DIC及365nm UV成像等)可用于不同材料特性的分析; ◆最大样片尺寸可达8英寸,分辨率达0.13um; ◆先进的检测方式可用于硅片、光罩和其他材料的失效分析及工艺控制。 技术参数: 半自动化的光学检测设备,被广泛应用于检测硅片、光罩、MEMS以及相关产品。采用了高质量的Leica 镜头,配激光自动聚焦系统。 主要特点: ◆具紫外光成像功能,成像清晰,分辨率高; ◆模组自动化程度高; ◆软件操作简单易学; ◆机型小巧,产能高。 |
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