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电致发光量子效率测量系统
电致发光量子效率测量系统图片
产地:美国
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产品介绍

SpectrumTEQ-EL

电致发光量子效率测量系统

SpectrumTEQ-EL系列电致发光量子效率测量系统,可以针对发光器件的光电特性进行有效测量,系统搭配QE Pro光谱仪为业内公认旗舰系列,具有高信噪比、低杂散光等特性;同时,系统配有强大的测试软件,对话框式的软件操作界面让测量过程变得更为简单。

应用:

无机电致发光

有机电致发光

分子薄膜EL器件

优势:

体积小巧:便于灵活使用及运输

原位测量:可放至手套箱内,实现原位测量

结构稳定:设备无需频繁校准

光谱仪

型号

QEPro/QE65Pro(可选)

光谱范围(nm

350-1100

信噪比

1000:1

分辨率

2.5nm(FWHM)

动态范围

85000:1(QEPro单次采集);25000:1(QE65Pro单次采集)

AD位数

18-bit(QEPro);16-bit(QE65Pro)

积分球

尺寸

3.3"

1.5"

涂层材料

Sperctralon

源表

Keithley 2400

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