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series Field Programmable Gate Array (FPGA) IC 484-BBGA, FCBGA XC6VLX75T-1FF484I
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Xilinx Inc.
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series Field Programmable Gate Array (FPGA) IC 784-BBGA, FCBGA XC6VLX195T-L1FF784I
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series Field Programmable Gate Array (FPGA) IC 784-BBGA, FCBGA XC6VLX75T-L1FF784I
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series Field Programmable Gate Array (FPGA) IC 784-BBGA, FCBGA XC6VLX130T-L1FF784I
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Xilinx Inc.
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series Field Programmable Gate Array (FPGA) IC 665-BBGA, FCBGA XC5VLX30T-2FF665I
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Xilinx Inc.
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series Field Programmable Gate Array (FPGA) IC 665-BBGA, FCBGA XC5VFX70T-1FF665I
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Xilinx Inc.
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series Field Programmable Gate Array (FPGA) IC 665-BBGA, FCBGA XC5VFX30T-1FF665I
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Xilinx Inc.
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series Field Programmable Gate Array (FPGA) IC 665-BBGA, FCBGA XC5VFX70T-2FF665I
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series Field Programmable Gate Array (FPGA) IC 665-BBGA, FCBGA XC5VFX30T-2FF665I
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Xilinx Inc.
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series Field Programmable Gate Array (FPGA) IC 665-BBGA, FCBGA XC5VLX30T-1FF665I
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Xilinx Inc.
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真 RMS 交流电压变送器 0 ~ 500VAC 输入 0 ~ 5VDC 输出 24VDC DIN 轨道 CR4550-500
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CR Magnetics Inc.
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传感器输出 CRD5110-300-25
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CR Magnetics Inc.
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EARTH RESISTANCE TESTER ERT1500
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TPI (Test Products Int)
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用于测量包括 712C5
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TPI (Test Products Int)
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用于测量包括 712A740
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TPI (Test Products Int)
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用于测量包括 709R
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TPI (Test Products Int)
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用于测量包括 709OIL
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TPI (Test Products Int)
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用于测量包括 709A740OIL
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TPI (Test Products Int)
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用于测量包括 709A740C1
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TPI (Test Products Int)
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用于测量包括 709A740
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TPI (Test Products Int)
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用于测量包括 708C7
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TPI (Test Products Int)
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用于测量包括 708C5
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TPI (Test Products Int)
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用于测量包括 708C10
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TPI (Test Products Int)
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用于测量包括 708A740
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TPI (Test Products Int)
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用于测量包括 707A740
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TPI (Test Products Int)
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用于测量包括 1010
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TPI (Test Products Int)
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用于测量包括 775
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TPI (Test Products Int)
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0 ~ 32VDC，0 ~ 32VDC，5VDC 输出工作台(AC 至 DC)电源 LED 0 ~ 6A，0 ~ 6A，3A 输出-特性稳压，跟踪和并联模式 1673
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B&K Precision
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NB7V33M 时钟除法器计时评估板 NB7V33MMNGEVB
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评估板 NB7V32MMNGEVB
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评估板 NB6N11SMNGEVB
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评估板 NB6L72MNGEVB
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评估板 NB6L72MMNGEVB
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评估板 NB6L14MNGEVB
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评估板 NB6L14MMNGEVB
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评估板 NB6N14SMNGEVB
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评估板 NB6L11SMNGEVB
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NB6N239SMN 时钟除法器计时评估板 NB6N239SMNEVB
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NB6L239 时钟除法器计时评估板 NB6L239MNEVB
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NB7L72M 交叉点开关/多路复用器接口评估板 NB7L72MMNGEVB
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