特点：

·测试速度快：3秒自动对焦，10秒钟完成50nm级极薄镀层的测量；

·无标样测量：与以往的技术相比，薄膜FP软件得到进一步扩充，即使没有标准品也能精确测量；

·多镀层测量：最多能够进行5层的多镀层样品测量；

·广域图像观察：能将样品图像放大5到7倍，并对测量部位精确定位；

·低成本：较以往机型价格降低了20%。

FT110可降低成本如下：˙节省材料费，

全球资源紧缺已是大势所趋，企业的材料费也是节节攀高；尤其是表面处理工作中所用到的贵金属更是一涨再涨，比如众如周知的黄金Au已从十几年前的百余元每克上涨到三百多元，以印刷电路板厂每年产量几十万套为例，根据业界经验如果能更好控制镀层厚度，企业每年可节约上千万的费用。

˙减少工期(作业人工)

通过X射线仪来评价，管理产品可以轻松知晓产品能发挥最大功能时的最小镀层厚度，从而避免重复电镀造成的电费和人工费的流失。

˙减少修理，修补等产生的制作费用

通过X射线仪可避免镀层不均或太薄造成的质量问题，以及后续的返工造成的费用。

基本规格