塞贝克系数/电阻测量系统
产品介绍 塞贝克系数/电阻测量系统ZEM-3 ——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻 塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点,塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。 设备特点: ◆ 拥有温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器; ◆ 测量是由计算机控制的,并且能够在指定的温度下执行测量,并允许自动测量消除背底电动势; ◆ 欧姆接触自动检测功能(V-I图); ◆ 可以用适配器来测量薄膜; ◆ 可定制高阻型。 参数配置:
工作原理图: 设备结构: 样品腔部分: 应用方向: 对于半导体,陶瓷材料,金属材料等多种材料的热电性能分析。 可选功能:
2. 低温选件(温度范围-100℃到200℃) 3. 高阻选件(最高到10MΩ) 附: 热电材料/器件测试设备
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